우리학교 정보통신대학 김정래 교수와 임유진 석사과정 학생이 '2024년 유럽 설계 자동화 및 테스트학회(DATE)'에서 최우수 논문상을 수상했다.

DATE는 전자시스템 설계, 자동화, 테스트 분야에서 유럽에서 가장 권위있는 학술 대회로 평가받으며, 올해 스페인 발렌시아에서 개최되었다.

설계, 응용, 테스트 및 신뢰성, 내장형 소프트웨어 등 4개 부문에서 총 996편 논문이 제출됐고 심사를 통해 244편이 통과됐다. 심사위원 평가를 통해 부문별로 한 편씩 최우수 논문을 선정하는데, 최우수 논문상에 국내대학이 선정된건 2013년 이후 11년 만이며 테스트 및 신뢰성 부문에서는 국내 최초이다.

수상 논문인 "SELCC: Enhancing MLC Reliability and Endurance with Single Cell Error Correction Codes"는 다중 레벨 셀(Multi-Level Cell, MLC) 상변화 메모리의 신뢰성과 내구성을 동시에 향상시키는 혁신적인 오류정정부호를 제안했다. 다중 레벨 상변화 메모리는 하나의 셀에 여러 비트의 정보를 저장할 수 있어 DRAM보다 높은 저장 용량을 자랑하는 차세대 메모리 기술로 주목받고 있다.

기존에는 DRAM에 비해 신뢰성과 내구성이 낮은 것이 단점으로 지적되었는데, 김 교수의 연구는 이러한 문제를 하드웨어의 추가적인 부담 없이 오류정정코드의 개선을 통해 높은 신뢰성과 내구성을 동시에 달성할 수 있는 뛰어난 방법으로 평가받아 최우수 논문상이 수여되었다.

김정래 교수는 "국내 반도체 인력의 우수성을 해외에 널리 알리고, 차세대 메모리의 혁신에 기여할 수 있는 좋은 성과가 나와서 기쁘다"라고 수상 소감을 밝혔다.

관련 보도 링크 https://www.joongang.co.kr/article/25236533#home